光(guāng)學特性參(cān)數測量儀器,如光(guāng)譜儀、輻射計/光度計(jì)、激光功率計、激光能量計、脈衝寬度探測器、光束質量分(fèn)析儀/光束輪廓儀、高速偏振光相機等
博源光電-緊湊型光譜儀及光功率計
博(bó)源光電提供波長從180nm到(dào)1700nm的緊湊型光譜(pǔ)儀,以及光電二極管/熱電堆型光功率(lǜ)計。
EOC-相幹-脈衝寬度測量用(yòng)光電探測器
EOC的(de)光電探測(cè)器在世界各地的(de)實驗室中用於脈衝寬度(dù)測量和脈衝輪廓應用,如監測脈(mài)衝激光器、鎖模激光器和(hé)外部調製連續激光器的輸(shū)出(chū)
Photonic Lattice -偏振光學元(yuán)件和偏(piān)振高速(sù)相(xiàng)機
我們不限於提供(gòng)偏振光學元件,我們也提供基於偏振元件(jiàn)的獨特(tè)的產品(pǐn),如我們專有的雙折射測量係統、偏振高速相機、超高速(sù)和高靈敏度熱成像相機以及二氧化碳成像係統。
Dataray- 光(guāng)斑輪廓(kuò)儀
DataRay是(shì)符合(hé)ISO標準的激光束輪廓儀的領(lǐng)先製(zhì)造商
International Light-光度計、輻(fú)射計、光譜光度計、光譜輻照度計
我們提供一係列光測量(liàng)產品(pǐn)和設備,包括光度計、輻射計(jì)、光譜光度計和光譜輻射(shè)計,適用(yòng)於紫外線、可(kě)見光和紅外測量。
HAAS-高功率激光束分析儀
HAAS激光束分析儀係統是模塊化設計。該係統包括軟件、相機、光束減(jiǎn)少光學器件、衰減(jiǎn)模(mó)塊和濾波器,能夠實現從低功率(lǜ)到高功率連續波和脈衝激光器的“實時”激(jī)光束診斷。
ALPHALAS GmbH – 超快光電探(tàn)測器
ALPHALAS GmbH是一家德國激(jī)光製造商。作為一(yī)家高科技(jì)激光公司,我(wǒ)們在激光、光學和激光相關電子領域提供廣泛的產品。

博源光電(diàn)成立於2012年,位於中國杭州。
是一家專業生產科學(xué)教(jiāo)育儀器和光子學儀器的公司。我們生產(chǎn)各種物理、光電專業的實驗教學培訓套件(jiàn), 以及(jí)以光譜、光強度分析為基礎的測量儀器及解決方案(àn),為客戶帶來高質量、實惠和可靠的產品。
博源光電的光分析(xī)產品,包含(hán)光譜儀係列和光功率係列:
光譜儀產品係列:
| 描述 | 參考圖片(piàn) | 產(chǎn)品係列 | 波長(nm) |
光學分辨率 FWHM(nm) |
備註說明 |
|
VIS-NIR 小(xiǎo)型光譜儀 |
![]() |
BIM-6001A | 315~1100 | 1~0.35 | |
| BIM-6002A | 180~1100 | ||||
|
VIS-NIR 高(gāo)分辨率光譜儀 |
![]() |
BIM-6601A | 315~1100 | 0.35~0.08 | |
| BIM-6602A | 180~1100 | 0.35~0.1 | |||
| BIM-6606 | 200~1100 | 0.35~0.06 | |||
|
UV-NIR 高靈敏(mǐn)度光譜儀 |
![]() |
BIM-6703 | 200~1100 | 1~0.35 | 在 500-900nm區間具備高靈敏度,適合拉曼應用 |
| BIM-6704 | 在 200-500nm區間具備高靈敏度,適合(hé)UV波段 | ||||
|
UV-NIR 高靈敏度高分辨率光譜儀 |
![]() |
BIM-6603 | 200~1100 | 1~0.1 | 在 500-900nm區間(jiān)具備高靈敏度,適合(hé)拉曼應用 |
|
NIR 光譜儀 |
![]() |
BIM-6805 | 950-1700 | ~10nm | |
![]() |
BIM-6809 | 920-1700 | ~5nm |
光功率計產品係列:
| 通訊方式 | 傳統表頭 | USB | BT | |
| 產品(pǐn)描述 |
探頭直接通過功率計表頭輸出(chū)數(shù)據(jù)(可(kě)直接顯示或USB連接PC) |
USB或USB Hub作為通訊接(jiē)口,通過在PC端直接顯(xiǎn)示 |
通過BT進(jìn)行數據傳輸(shū),直接顯示在安卓移動端,如手(shǒu)機或平板 |
|
|
可選探頭 |
Si, 380~1100nm 功率密度:10mW/cm2 |
√ | √ | × |
|
UV-Si, 80~1100nm 功(gōng)率密度:1mW/cm2 |
√ | √ | × | |
|
InGaAs: 800~1650nm 功率密度:10mW/cm2 |
√ | √ | × | |
|
Thermopile: 0.19~20um 功率密(mì)度:10kW/cm2 |
√ | × | √ | |
|
其他 |
光(guāng)電型探測器,可配置積(jī)分球 | |||
Photonic Lattice於2002年在(zài)日本仙台創立。其核心技術(shù)是光子晶體技術,利用濺射技術將不同(tóng)軸向的微偏振器陣列自由圖案化並堆疊在單個晶片上(shàng)。這項技術(shù)被用作光通信(偏振複用)、半(bàn)導體(使用DUV光進行(háng)檢查)、精密處理(光束整(zhěng)形)和其他各領域設備的核心部件(jiàn)。
如今,通過特殊光學和計算算法等應用技術(shù)的研發,Photonic Lattice已經實現了專有的雙折射測量係統、偏振高速(sù)相機、超高速高(gāo)靈敏度熱成像相機、二(èr)氧化碳成像係統等獨特的產(chǎn)品,使我們能夠對以(yǐ)前很難呈現的(de)現象進行可(kě)視化和測量。
產品:
我(wǒ)們使用我們獨特的光學技術提供光學(xué)元件、光學模(mó)塊、檢測設備、定製開發和合同測試服(fú)務。
- ● 光子晶體偏振光學元件
- ● 2D雙折射測量係統
- ● 在線/離線映射型雙折射測量係統
- ● 高(gāo)速紅外攝(shè)像機/紅外(wài)測量設備(bèi)
- ● 高速偏振相機
- ● 偏振(zhèn)成像相機(jī)
- ● 厚(hòu)度和折射率測量(橢圓測(cè)量法)
2D雙折射(shè)測量係統

PA/WPA係列係統提供透明材料的高速雙折射測量,例如用於殘餘應力評估的透明部件,或用於相(xiàng)位均勻性評估的透明膜(mó)。從微觀到(dào)宏觀(~50cm),視野適(shì)用於任何測量情況,可(kě)按材料尺寸選配不同的產品。
- ● PA係列以500萬像素(sù)的高分辨率高速測量(liàng)雙折射和相位差,測(cè)量範圍為(wéi)0至(zhì)130nm的低相位差。適用於玻璃器皿和其他(tā)低相位差目標的測量。
- ● WPA係(xì)列通過測量三波長的雙折射/相位差分佈,將相位差的(de)測量範圍從0擴展到(dào)3500nm。適用於測量大(dà)型透明(míng)樹脂產品。
PA/WPA-NIR 係列
該係統在850nm波長下工作(zuò),為在可見光波長下不透明的工件的工藝(yì)和質量控製提供(gòng)了強大的工具,如激光雷(léi)達(dá)和人臉識別係統中使用的特殊(shū)樹(shù)脂和硫族(元素)化物。

在線/離(lí)線映射型雙折射測量係統

使用KAMAKIRI對整個(gè)薄膜表麵進行檢查。因(yīn)此,即使突然(rán)發(fā)生光學不規則,也可以實時生(shēng)成警報,以(yǐ)防(fáng)止任何缺陷區域流出。
從“可視化”到“自動(dòng)檢測”防止不良產品流出和快速檢測缺陷
- ● 隨著顯示器在分辨率和對比度方麵變得更高(gāo),並且隨著製造商提高(gāo)圖(tú)像質量,正在追求薄膜平(píng)麵內的高度相移和主軸取向均勻性。
- ● 此(cǐ)外,從環境(jìng)角度來(lái)看,指定要(yào)處(chù)理的生產批次和薄(báo)膜修剪區(qū)域變(biàn)得很重要。
- ● 通(tōng)過使用KAMAKIRI,它結合(hé)了一個獨特的偏振高速相機和掃描係統,現在可以在(zài)極短的時間內,在生(shēng)產線和研究實驗室中,高(gāo)精度地檢查和(hé)記錄薄膜平麵中的雙折射。

大量安(ān)裝成果
- ● 自(zì)2014年底推出以來,日本、韓國和中國的光學薄(báo)膜製造商和(hé)玻(bō)璃/透鏡成型製造商已經安裝了50多個KAMAKIRI係列產品。
- ● 特別是對於光學薄膜製造商來說,有許(xǔ)多不(bú)同類型的生產(chǎn)線,每條生產線都有不同的要求。
- ● 我們製造並安裝(zhuāng)了寬度為200mm的小型係統(tǒng)和寬度超過5m的大型係統。
- ● 通過確認(rèn)客戶生產線的狀態,我們可(kě)以提(tí)出符(fú)合的係統配置。
高速紅(hóng)外(wài)攝像機/紅外測量設備

我們提出了(le)一種基於世界上高級別的高速高靈敏度(dù)紅外相機技術的紅外研發測量係統。它適用於各種新的應用,如高速溫度測(cè)量、CO2氣體可視(shì)化(huà)或焊接溫度分析。
瞬時(shí)溫度變化的可視化(huà)

- ● 使用我們的冷卻紅外高速(sù)相機,通過將圖像傳(chuán)感器冷卻至-190°C,將熱噪聲降(jiàng)低到最大限度,實現了(le)過去難以實現的高精度、高速熱成像測量。
- ● 這使得可以精確地測量(liàng)高速現象,例如拉伸試驗中斷裂瞬間的溫度(dù)上升、激光加工過程中工件的溫度上升或高速移動物體的溫度測量。此外,通過以高精度檢測極小(xiǎo)的溫度變化,可以評估例如半導體芯片在操作期間的溫度上升或在溫度上升期間液體中(zhōng)的溫度不(bú)規則性。
CO2氣體(tǐ)可(kě)視化

- ● 通過可視化不可見的氣體,如CO2、甲烷、乙烷、乙醇、甲苯等,可以檢測和量化管道、呼氣流的洩漏,或者使用CO2表徵裸氣流;氣體作為一種廉價的示(shì)蹤劑。
- ● 當可視化CO2時,一個特別關注(zhù)的問題是它通常很難與水蒸氣區分開來。
- ● 另一方麵,CO2相機可以通過對特定(dìng)波長的紅外(wài)吸收進行光譜過濾來(lái)區分氣體。
- ● 在(zài)4.3微米波段(duàn),二氧化碳比水蒸氣吸收能(néng)力強得多,因此可以(yǐ)克服這(zhè)一問題。
高速偏振相(xiàng)機

CRYSTA是世界上速度最快的高速偏振相機(jī),可以實時顯示透明(míng)材料的內部(bù)應力和取向結構。它在生物技術、國(guó)防(fáng)或航空航天技術等各個研發領域都有很大幫助(zhù)。
- ● 材料加工過程中內部應(yīng)力分佈的可視化和加工條件的分析
- ● 衝擊(jī)試驗/斷裂中裂紋周圍應力傳(chuán)播的評估
- ● 液(yè)晶/晶體材料晶軸和取向狀態的動態觀測
- ● 粘彈性和軟物質產(chǎn)生(shēng)的流動應力分佈可視(shì)化
偏振態可以(yǐ)測量和可視化各種物理量和物理性(xìng)質。
- ● 偏振是“沿規則方向(xiàng)振動的光”,人眼無法識別。由於偏振態的變化取決於透射物體的內部結構和(hé)反射物體(tǐ)的表麵(miàn)形狀,通過測量(liàng)入射光和透射光到物體(tǐ)的偏振態,可以應用於(yú)各種物理量的測量和現象的可視化。
- ● 此外,“偏振”和“高速成像”技術的結合將實現以前難以想象的(de)新圖像分析,例如從圖像中檢(jiǎn)查透明(míng)材料加工過(guò)程中(zhōng)施加在工具上(shàng)的載荷,可視(shì)化衝擊試驗和流動現象中的應力傳播和弛豫過程,以及以非接觸方式定量測(cè)量取向膜的空間性能均勻性。
偏(piān)振成像相(xiàng)機

PI/WPI相機能夠作(zuò)為正常圖像一樣實時獲得偏振信(xìn)息,並具有高分辨率。它們被用於(yú)許(xǔ)多領域,包括使用(yòng)偏振特徵識別暗物體、激光束(shù)的實時偏振監測等。
除了記錄線偏振度(DOLP)和主軸方位角的PI功能(néng)外,WPI還提供(gòng)了斯托克斯(sī)參數和偏振度(DOP)的(de)全麵記錄,這在部分偏振(zhèn)情況下是必要的。
通過偏振效應觀察表麵凸起(qǐ)
偏振允許檢測使用普通相機(jī)難以看到的小邊緣和表麵(miàn)不規則性。偏振成像在觀察黑暗物(wù)體時尤其閃耀。
![]() |
![]() |
|
| 普通圖像 |
偏振圖(tú)像 在偏振圖像上可以清楚地看到表麵凸起。 |
新材料評估(比(bǐ)如碳纖維…)
使(shǐ)用反射光,偏(piān)振可(kě)以(yǐ)用於實時觀察和量化CFRP(碳纖維增強聚合物)樣(yàng)品中纖維的取向。

新材料(liào)評估(gū)
WPI全偏振成像
市場(chǎng)上的(de)偏振(zhèn)相機,包括PI,隻提供有限的偏振信息,而不是整個畫麵。
與這種相機相比,WPI係統可以訪問完整的斯托克(kè)斯(sī)參數,允許在右旋、左旋、橢圓和圓偏振態之間進(jìn)行(háng)辨別。此外,WPI係統區分偏振光和非偏振光,並且不會將橢(duǒ)圓偏振與(yǔ)非偏振光混合(hé)。WPI係統是全偏振測量的最佳選擇。

藍色部分為右旋圓偏(piān)振(RCP),紅色(sè)部分為左旋圓(yuán)偏振(LCP)
厚度和折(shé)射率(lǜ)測量(橢圓測量法)

這些係統測量超(chāo)薄膜的厚度(dù)和折射率。它們實現了對完整二維分佈的高(gāo)速測量,可縮放到微(wēi)尺度(dù)區域。它們主要(yào)用於半導體晶片和顯示麵(miàn)板的評估。
現在可以以高分辨率對薄膜厚(hòu)度和折射率進行高速(sù)、無損、高精度的測量。
我們支(zhī)持質量管理和過程控(kòng)製,提(tí)供豐富的數據量和可適應您需求(qiú)的軟件功能。
高速(sù)

全麵積晶圓(高達12英寸)的高速評估。
使用豐(fēng)富的數據量,您可以為故障排除過程提供反饋,並(bìng)將質量控製提升到一個新的水平。
- ● 厚(hòu)度測量(liàng)從“點”升級為全麵的“表麵”評估
- ● 全表麵評估為過程評估提供了很好的見解
高分辨率【ME-210(-T)】

ME-210(-T)除了具有高達12英寸的晶片的大表麵測量能力外(wài),還提供了(le)高分辨率模式,可以(yǐ)放大到幾微米小的(de)區域。
測(cè)量區域尺寸:最大(dà)12 inches(標準:8 inches)
光斑大小:
- 標準模式:0.55mm
- 中間模式:55μm
- 高分辨率模式:5.5μm
可提供透明(míng)基板的薄膜測量

使用ME-210-T,我們可以對通常難以使用標準橢圓偏振(zhèn)技術進行評估的物體進行評估,例如OLED的有機薄膜等。
簡(jiǎn)潔緊湊(còu)【SE-101】

使用ME-210-T,我們可以對通(tōng)常難以使用標準橢圓偏振技術進行(háng)評估的物體進行(háng)評估,例如OLED的有機薄膜等。
![]()
DataRay成立於1988年,美國加(jiā)利福尼亞州。

DataRay是符合ISO標準的激光光束輪廓儀的製造商。我們(men)提供各種激光(guāng)束(shù)輪廓解決方案,為光子學(xué)行業帶來高質量(liàng)、經濟實惠和可靠的產品。我們的解(jiě)決方案包括激光光(guāng)束輪廓(kuò)相機、掃描狹縫光束(shù)輪廓(kuò)儀、M²測量係統和專用(yòng)光束輪廓(kuò)儀係統。我們為各種應用和波長提供解決方(fāng)案(àn)。我們的光束輪廓係統在美國設計(jì)和製造,並提供3年保修。
DataRay率先推出:
- ● 適用於Windows的光束分析軟(ruǎn)件
- ● 兼容Windows 95的CCD光束輪廓相機
- ● CCD電子快門的軟件控製
- ● 具有Micron功能的線性掃描雙模狹縫/刀刃光(guāng)束輪廓儀,完全符合ISO 11146光(guāng)束輪廓儀標準(zhǔn)
- ● 用於聚焦光束、準直和M²測量的緊湊型多平麵掃描頭
- ● 14位ADC數(shù)字百萬像素CCD光束輪廓相機
- ● USB 2.0端(duān)口供電的光束輪廓相機
- ● Windows 7支(zhī)持
DATARAY的優勢:
|
廣泛(fàn)的應用 產品(pǐn)特(tè)點:
|
![]() |
寬帶(dài)寬(kuān) DataRay的產品組合涵蓋從(cóng)DUV到FIR的波長 |
![]() |
用戶無隱藏成本 所有(yǒu)DataRay係統均提(tí)供3年(nián)保(bǎo)修;在此期間內的任(rèn)何(hé)必要維修都是免費的,包括零件和人工(不包括(kuò)客戶造成的損(sǔn)壞) |
![]() |
符合ISO 11146 的(de)光束(shù)輪廓儀 我們使用的XY平麵掃描狹縫(féng)運動嚴格符(fú)合(hé)標準的要求,即在垂直於傳播軸的平麵上進行狹縫(féng)或刀刃掃描 |
![]() |
免費、友好的軟件 我們為您的(de)產品提供多(duō)功能軟件(jiàn)和免費下載(zǎi)的更新 |
![]() |
全球化的本地支持 你總能在附近(jìn)找到當地的(de)專業經(jīng)銷商。在中國,請聯繫科(kē)藝儀器各辦(bàn)事處。 |
DataRay的產品係列:
1. 光束(shù)輪廓相機

DataRay生(shēng)產三個係列的光束輪廓相機(jī):WinCamD、BladeCam和TaperCamD相(xiàng)機。這些基於CMOS和VO微測輻射熱計的相機覆蓋了(le)從190 nm到16μm的不同波長。
2. 掃描狹縫光束剖麵儀(Si、Ge和InGaAs探測器)

DataRay生產兩種類型的掃描(miáo)狹縫(féng)光束輪廓儀:獲得專利的BeamMap係列,提(tí)供實時M²、發散角、聚焦和對準管理,以及beam'R係列,提供價格合理、緊湊和精確的光束輪(lún)廓。我們(men)所有的掃描狹縫光束輪廓儀都配有(yǒu)Si、Ge和(hé)InGaAs探測器,覆蓋波長從190 nm到2500 nm。
3. 專(zhuān)用光束剖(pōu)麵儀係統(受客戶啟發)

除(chú)了光束輪廓相機和掃描狹縫光束輪廓儀,DataRay還提供專門的光束輪廓儀係統。這些係統(tǒng)為複雜的應(yīng)用程序提供瞭解(jiě)決方案。大光束輪廓係統適用於高達200mm圖像區域的光束,而線激光輪廓係(xì)統提供了高達200mm長度的線激光的(de)直接測量。
4. 附件

DataRay提(tí)供各種光束輪廓儀配件,涵蓋光(guāng)束衰減、光學、平移臺、紫外線和紅外線轉(zhuǎn)換器(qì)等。
![]()
Haas Laser Technologies(Haaslti)是定製激光束傳輸組件的創新者。由Gilbert Haas於1992年創立,公司的使(shǐ)命是為創新、可靠性和質量製定行業標準(zhǔn)。Haaslti在新(xīn)澤西州法蘭德斯擁有35000多平方英尺的工廠,在全球範圍內提供各種激光束傳送組件。我們的(de)資(zī)源(yuán)包括經驗豐富的工程師、先進的製造業和(hé)先進的機器車間。
遠(yuǎn)東和歐洲的經銷商已經證明了Hass在全球範(fàn)圍內提供和支持(chí)其產品的(de)承諾。
Haas目前已有數千種產品在世界各地的克萊斯勒、通用汽車、福特、通用電氣、法(fǎ)國航空和惠普等公司安裝(zhuāng),並以每週7天、每天(tiān)24小時連續運行。
主要產品包括:
![]() |
● 激光束(shù)診斷 在每一種激光應用中,激光束(shù)輪(lún)廓都為最有效地使用激光提供了有價值的信息。通過監測激光束的空間輪廓、圓度(dù)、質心、散光和M2值,您可以對(duì)激光和整個光束傳輸光學係統的任何問題(tí)發(fā)出(chū)早(zǎo)期警示。這(zhè)些與提高(gāo)質量、工藝可靠性和(hé)減少廢料有關。 HAAS的激光束分析儀係統是模塊(kuài)化(huà)設計。該係統包括軟件、相機、光束(shù)衰(shuāi)減(jiǎn)光學係統(tǒng)、衰減(jiǎn)模塊和濾波器,可實(shí)現從低(dī)功率到高功率CW和脈衝激光(guāng)器的“實時”激光束診斷。該設(shè)計提供近(jìn)場和遠場瞬時激光束測量、分析和監控,“無移動部件”。 BA-CAM和BWA-CAM軟件是(shì)根據ISO 11146和ISO 13694國際標準設計的。基(jī)於全圖(tú)像的二階矩技術、刀口和方程擬合(高斯、超高斯和超圓環)技術用於確定快速可靠(kào)的(de)標準光束參數。 計算(suàn)結果可以以表格形式查看,也可以記錄以查看隨(suí)時間的變化(huà)。可視化窗(chuāng)口包括X軸和Y軸(zhóu)圖、激光束的3D視圖、直方圖和數據庫報告。 |
![]() |
BA-CAM 光束分析儀(BA-CAM)提供對激光空(kōng)間分佈、激(jī)光功率、光束直徑、光束橢圓度、光束中(zhōng)心和光束質心的“實時”遠場(chǎng)觀(guān)察、測量(liàng)、分析和監控(kòng)。BA-CAM還可以監測激光束的退化、穩定性、功率、對準和調整。 |
![]() |
BWA-CAM 束腰(yāo)分析儀(BWA-CAM)提供“實(shí)時”近場M2測量且無需(xū)移動部件。(BWA-CAM)提供對激光束和所有有源光學元件的(de)即時分析和監測。 |
![]() |
BA-CAM + BWA-CAM 雙係統結(jié)合了光束分(fèn)析儀(BA-CAM)和束腰(yāo)分析儀(BWA-CAM),可提供激光束的“實時”近(jìn)場和遠場(chǎng)觀(guān)察、測量(liàng)和分析。 |
![]() |
BWA-MON BWA-MON是為大多(duō)數應用和激光波長的光(guāng)束分析儀(BA-CAM)和束(shù)腰分析儀(BWA-CAM)配置的模塊(kuài)化(huà)聚焦(jiāo)頭(tóu)設計。該設(shè)計不包含“移動(dòng)部件(jiàn)”,可對激光束及其光學元件進行即時測(cè)量和分析。 |
關於International Light
五十多年來,International Light一直(zhí)在(zài)開發(fā)滿足廣泛需求並解決各種挑戰的產品和解決方案。ILT將照明和光測量(liàng)專業知識相結合,為客戶提供(gòng)出色的產品和服(fú)務。
International Light Technologies( ILT) 是在Gilway與IL合併後成(chéng)立的。Gilway Technical Lamp和International Light在為客戶提供模範服務、準時交貨和技術專業(yè)知識方麵享有悠久而自豪的聲譽。Gilway成立於(yú)1969年,為(wéi)客戶提供全光譜光源的現(xiàn)成和定製解決方案。自1965年以來,International Light一直通過設計和製造各種光測量儀器,包括市場上準確的照度計,來解決光測量的固(gù)有困難。
2022年2月,ILT被Ocean Insight收購。ILT的(de)辦公室、研發、經過(guò)認證的先進的測試和校準實驗室、倉庫(kù)及(jí)其大部分製造都位於馬薩諸塞州皮博迪,距離波士頓以北僅15英裏。
為什麼選擇International Light
為什麼您要與ILT合(hé)作來麵對您最近的挑戰?我們所做的就是創新和解決問題。我們擁有半個多世紀的經驗(yàn),與各種類型和(hé)規模的公司以及廣泛的行業合(hé)作,提(tí)供解決(jué)棘(jí)手障礙的產品和解決方案。ILT在電氣、光學、機械、質量(liàng)和製造工程領(lǐng)域僱傭了一支技能高超(chāo)的專家團隊。我們的員(yuán)工將與(yǔ)您合作,確保您獲得適(shì)合(hé)您的解決方案,無論是現成的還是量身定製的。在當今動盪的環(huán)境中,大公司都(dōu)在努力跟上,許多(duō)進入者來來往往,ILT繼續提供解決問題、按照高質量標準設計和製造、能夠快速且經濟高效地推向市場的產品(pǐn)和解決方案。
我們提供的產品
我們提供一係列光測量產品和設(shè)備,包括光度(dù)計、輻射計、光譜光度計和光譜輻射計,適(shì)用於紫外線、可見光和紅外測(cè)量。我們還提(tí)供配套配件,包括探測器、濾波器、輸入光學器件、積分球(qiú)和校準。我們設計我們的產品以承受從水下應用到直接暴露在高水平紫外線下,再到持續使用所需的許(xǔ)多苛刻應用。

UVGI抗微生物/消毒(dú)紫外線測量儀:
用於測量低\中壓汞光源、UV-C LED和準分子光源-240-310 nm

ILT960便攜式緊湊(còu)型光譜儀
我們對客戶的(de)承諾
在(zài)ILT,我們致力於為客戶提供(gòng)高質量的產品、及時禮(lǐ)貌的客戶服務和技術支持。我們意(yì)識到,我們(men)製造的大部分產(chǎn)品最終都是(shì)為客戶提供解決方案的一部分。當您與ILT合作時,您可以相信我們(men)會支持我們的產品,並解決任何問題(tí)。
我們對質量的承諾
ILT致力於為(wéi)客戶提供高質量的產品和服務。我(wǒ)們的員工使用優良的工具來確保我(wǒ)們的所有產品的設計和製造都符合我們對耐用性、可靠性、功效和成本效益的嚴格要求。
為了確保這一承諾得到理解、實施和維護(hù),我們的所有員工都熟悉我(wǒ)們的政策,並(bìng)通過培訓和訪問我們的質(zhì)量手冊瞭解他們在質量體係中的要求。我(wǒ)們是一家通過ISO9001:2015質量管理認證的(de)組織,我們的所有產品都有保修(xiū)支持。ILT還通過了ISO13485:2016認(rèn)證。
ILT是ISO/IEC 17025:2017認證實驗室。該認證使我們能夠校準ILT品(pǐn)牌和非ILT品牌的表和分(fèn)光(guāng)輻射計。請訪問我們的校準頁麵,查看我們的所有校準服(fú)務。
ALPHALAS GmbH – 超快(kuài)光電探測器
ALPHALAS GmbH是一家德國激光製造(zào)商。作為一家高科技激光公司,我們在激光、光(guāng)學和(hé)激光相關電子領(lǐng)域提供廣泛的產品。
ALPHALAS的主要業務(wù)包括開發、生產和銷售激光器、激光(guāng)係統(tǒng)、激光相關電子產品和部件。主(zhǔ)要產品為先進的鎖(suǒ)模、連續和調Q二極管泵浦固體(tǐ)激光器。ALPHALAS專注於(yú)短脈衝(亞納秒、皮秒和飛秒)和微芯(xīn)片設計,但我們提供幾(jǐ)乎所有常見類型(xíng)的DPSS激光器(qì),具有高效和緊湊的設計。
ALPHALAS還提供各種光(guāng)電器件和部件,用於(yú)測量各種激光參數(shù)。我們有大量的光學(xué)和(hé)激光部件、偏振光學、激(jī)光和(hé)非線性晶體以(yǐ)及奇異和非傳(chuán)統部件,而(ér)且大部分都有現(xiàn)貨。
UPD係列超快光(guāng)電探測(cè)器最適合測量從(cóng)DC到25GHz的光波形。各種型號的上升時間最快可至(zhì)15ps,涵蓋170至2600nm的光譜(pǔ)範圍。


備註:
- ① 漫反射窗口降低了定位精度要求,並以大約三(sān)到五倍的靈敏度降低為代價增加了損傷(shāng)閾值(zhí)。建議僅(jǐn)用於高峰值功(gōng)率激光(guāng)器。
- ② 該型號具有”-”輸出。默(mò)認情況下(xià),所有其他型(xíng)號都具有”+”輸出,但如果需要(yào),可以訂購”-”輸出。
- ③ 帶TEC冷卻模塊(kuài),非標準外殼。
- ④ 具有增加(jiā)的BLUE/UV靈敏度的改性材料。
- ⑤ 與可選過濾器支(zhī)架不兼容。
- ⑥ 性能大大提(tí)高。






























